基于误差提取算法辅助装调的离焦误差校正方法

张汉琳, 张蓉竹

张汉琳, 张蓉竹. 基于误差提取算法辅助装调的离焦误差校正方法[J]. 应用光学, 2024, 45(6): 1245-1251. DOI: 10.5768/JAO202445.0603005
引用本文: 张汉琳, 张蓉竹. 基于误差提取算法辅助装调的离焦误差校正方法[J]. 应用光学, 2024, 45(6): 1245-1251. DOI: 10.5768/JAO202445.0603005
ZHANG Hanlin, ZHANG Rongzhu. Defocusing error correction method based on error extraction algorithm assisted installation and adjustment[J]. Journal of Applied Optics, 2024, 45(6): 1245-1251. DOI: 10.5768/JAO202445.0603005
Citation: ZHANG Hanlin, ZHANG Rongzhu. Defocusing error correction method based on error extraction algorithm assisted installation and adjustment[J]. Journal of Applied Optics, 2024, 45(6): 1245-1251. DOI: 10.5768/JAO202445.0603005

基于误差提取算法辅助装调的离焦误差校正方法

基金项目: 国家重点研发计划(2022YFF07129031)
详细信息
    作者简介:

    张汉琳(2001—),女,硕士研究生,主要从事精密光学检测技术研究。E-mail:2394252117@qq.com

    通讯作者:

    张蓉竹(1975—),女,博士,教授,博士生导师,主要从事激光与光电子技术、精密光学制造与测试技术研究。E-mail:zhang_rz@scu.edu.cn

  • 中图分类号: TN206

Defocusing error correction method based on error extraction algorithm assisted installation and adjustment

  • 摘要:

    在大数值孔径(NA)球面面形检测中,被测球面偏离理想共焦位置引入的离焦误差严重影响检测精度。为了对离焦误差进行精确提取和有效校正,提高元件终检位置的调整效率,设计了一种基于误差提取算法辅助装调的离焦误差校正方法。通过离焦误差提取算法实现离焦量的定量提取,并判断调整方向,快速精准地将大NA球面调整至零条纹位置,大幅减小离焦误差;辅助装调后再利用Zernike波面拟合算法消去离焦项以及大NA球面引入的球差项进行精调。实验结果表明:利用该方法对大NA球面进行校正,离焦量提取误差均在3%以内,此方法增大了元件的离焦误差提取和补偿范围,可将离焦量上限扩展至±25 μm,最终实现亚纳米级校正精度。

    Abstract:

    In large numerical aperture (NA) spherical surface shape detection, the defocusing errors introduced by the measured sphere deviating from the ideal confocal position will seriously affect the detection accuracy. In order to accurately extract and effectively correct defocusing errors and improve the efficiency of adjusting the final inspection position of components, a defocusing error correction method based on the error extraction algorithm assisted installation and adjustment was designed. The defocusing error extraction algorithm was used to quantitatively extract the defocusing amount and determine the direction of adjustment, so that the large NA spherical surface could be adjusted to zero fringe position quickly and accurately, and the defocusing errors could be greatly reduced. After auxiliary installation and adjustment, Zernike wavefront fitting algorithm was used to eliminate the defocusing term and the spherical difference term introduced by the large NA spherical surface for fine adjustment. The experimental results show that the defocusing extraction errors is within 3% by using the proposed method to correct large NA spherical surface. This method increases the range of defocusing errors extraction and compensation for components, and can extend the upper limit of defocusing amount to ±25 μm, which ultimately achieves the sub-nanometer correction accuracy.

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  • 图  1   相移干涉检测光路图

    Figure  1.   Optical path diagram of phase-shift interference detection

    图  2   波前离焦示意图

    Figure  2.   Schematic diagram of wavefront defocus

    图  3   不同离焦量对应的干涉图

    Figure  3.   Interferograms corresponding to different defocusing amount

    图  4   不同NA对应的解包裹相位图

    Figure  4.   Unwrapping phase diagrams corresponding to different NA

    图  5   离焦误差校正流程图

    Figure  5.   Flow chart of defocusing error correction

    图  6   校正算法各步骤结果图

    Figure  6.   Results diagram of each step of calibration algorithm

    图  7   离焦误差原始值与实测值对比图

    Figure  7.   Comparison between original and measured values of defocusing errors

    图  8   不同离焦量最终校正精度图

    Figure  8.   Final correction accuracy diagram for different defocusing amount

    图  9   实验干涉条纹图

    Figure  9.   Experimental interference fringe patterns

    图  10   辅助装调后波像差拟合图

    Figure  10.   Fitting diagram of wavefront aberration after auxiliary installation and adjustment

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图(10)
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出版历程
  • 收稿日期:  2024-01-08
  • 修回日期:  2024-05-24
  • 网络出版日期:  2024-10-18
  • 刊出日期:  2024-11-14

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