降低微通道板输入面电极反射率的技术途径

刘术林, 匡蕾, 孙建宁, 贾永前, 智强, 谭宇

刘术林, 匡蕾, 孙建宁, 贾永前, 智强, 谭宇. 降低微通道板输入面电极反射率的技术途径[J]. 应用光学, 2011, 32(2): 296-299.
引用本文: 刘术林, 匡蕾, 孙建宁, 贾永前, 智强, 谭宇. 降低微通道板输入面电极反射率的技术途径[J]. 应用光学, 2011, 32(2): 296-299.
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LIU Shu-lin, KUANG Lei, SUN Jian-ning, JIA Yong-qian, ZHI Qiang, TAN Yu. Technical solution on reducing reflectance of MCP inputsurface electrode[J]. Journal of Applied Optics, 2011, 32(2): 296-299.
Citation: LIU Shu-lin, KUANG Lei, SUN Jian-ning, JIA Yong-qian, ZHI Qiang, TAN Yu. Technical solution on reducing reflectance of MCP inputsurface electrode[J]. Journal of Applied Optics, 2011, 32(2): 296-299.
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降低微通道板输入面电极反射率的技术途径

  • 1.

    北方夜视技术集团公司微光器件中心 西安分部,陕西 西安710065;

  • 2.

    微光夜视技术国防科技重点实验室,陕西西安710065;

  • 3.

    江苏省安全生产科学研究院,江苏南京210042;

  • 4.

    北方夜视技术集团公司微光器件

  • 5.

    中心南京分部,江苏南京211100;

  • 6.

    中国人民解放军驻五二八厂军事代表室,江苏南京211106;

  • 7.

    西安应用光学研究所,陕西西安710065

详细信息
    通讯作者:

    刘术林(1963-),男,河南光山县人,硕士,研究员,主要从事微通道板及其应用和ICCD等方面的开发和工程化工作。

  • 中图分类号: TN223

Technical solution on reducing reflectance of MCP inputsurface electrode

  • 1.

    Xi-an Division,Center of Low-Light-Level Device,North Night Vision Technology Group Corporation,Xi' an 710065,China;

  • 2.

    Key Laboratory of Low-Light-Level Technology of COSTIND,Xi-an 710065,China;

  • 3.

    Jiangsu Academy of Safety Science and Technology,Nanjing 210042,China;

  • 4.

    Nanjing Division,Center of Low-Light-Level device,North Night Vision Technology Group Corporation ,Nanjing 210110,China;

  • 5.

    Military Representative Office,No.528 Factory,Nanjing 211106, China;

  • 6.

    Xi-an Institute of Applied Optics,Xi-an 710065, China

摘要

    摘要
  • 摘要: 为了降低透明或半透明光电阴极的光子在微通道板输入面上引起的散射噪声，通过对微通道板输入面蒸镀Ni-Cr电极后对反射率影响的定性分析以及镀膜方式、镀层厚度、电极深入通道内的深度和微通道板的开口面积比等测试分析，在兼顾微通道板对输入电极其他要求的前提下，获得了降低反射率的有效技术途径，即：采用电子束加热的蒸镀方式，用表面电阻大小来间接表征膜层厚度，使其控制在100 左右；电极深入通道内的深度为通道直径的35%；微通道板的开口面积比尽可能大些，可把反射率降低到4%以下，以此降低微光像增强器的光子散射噪声。
    Abstract: To reduce scattered noise which results from photons reflected by transparent or semitransparent photocathode at input surface of microchannel plate (MCP), the qualitative analysis of its influence on reflectance of the MCP input surface electrode and the test investigation of electrode film coating, film thickness, electrode depth, and open area ratio of MCP were given. Based on the influence of MCP input electrode on other MCP parameters, a technical solution was obtained which adopted electron gun to heat Ni-Cr alloy for electrode film coating and implemented the control of film thickness by keeping a constant resistance of 100, the electrode depth in channel accounted for 35% of channel diameter and the open area ratio of MCP was as larger as possible. Finally, the reflectivity of MCP input surface electrode is reduced to less than 4% and the photon scattered noise of image intensifier is decreased.
    • HTML全文
    • 参考文献(1)
  • ［1］GOODRICH G W，WILEY W C. Continuous channel electron multiplier ［J］. Rev. sci. Instrument, 1962, 33 (2):761-765
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    ［3］刘术林，邓广绪，苏德坦,等， 低噪声、高增益微通道板的研制［J］，应用光学，2006,27（6）：553-557.
    LIU Shu-lin,  DENG Guang-xu,  SU De-tan,  et  al.  Development of low noise, high gain
    microchannel plate ［J］. Journal of Applied Optics, 2006.27（6）：553-557.(in Chinese with an English abstract)
    ［4］向世明，倪国强. 光电子成像器件原理［M］. 北京：国防工业出版社，1999.
    XIANG Shi-ming,  NI Guo-qiang.  The principle of photoelectronic imaging devices［M］. Beijing: National Defense Industry Press,1999. ( in Chinese )
    ［5］孙建宁.  小孔径微通道板电极性能研究［D］. 南京：南京理工大学，2008.
    SUN Jian-ning. Research on the electrode performance of small pore microchannel plate ［D］. Nanjing: Nanjing University of Science and Technology Press, 2008 .(in Chinese)
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  • 刊出日期:  2011-03-14

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