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红外热像仪测试系统校准

胡铁力 韩军 郑克哲 薛战理 李旭东

胡铁力, 韩军, 郑克哲, 薛战理, 李旭东. 红外热像仪测试系统校准[J]. 应用光学, 2006, 27(supp): 28-32.
引用本文: 胡铁力, 韩军, 郑克哲, 薛战理, 李旭东. 红外热像仪测试系统校准[J]. 应用光学, 2006, 27(supp): 28-32.
HU Tie-li, HAN Jun, ZHENG Ke-zhe, XUE Zhan-li, LI Xu-dong. Calibration facility of infrared imaging systems[J]. Journal of Applied Optics, 2006, 27(supp): 28-32.
Citation: HU Tie-li, HAN Jun, ZHENG Ke-zhe, XUE Zhan-li, LI Xu-dong. Calibration facility of infrared imaging systems[J]. Journal of Applied Optics, 2006, 27(supp): 28-32.

红外热像仪测试系统校准

详细信息
    通讯作者:

    胡铁力

  • 中图分类号: TN216

Calibration facility of infrared imaging systems

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    Corresponding author: HU Tie-li
  • 摘要: 针对如何建立红外热像仪测试系统的校准和量值溯源这一困扰当今红外计量领域的技术难题,通过精密测温扫描辐射计测量红外热像仪测试系统的差分温度传输比,实现红外热像仪测试系统校准方案及量值溯源。从差分温度和差分温度传输比出发,分析了黑体和高发射率靶标产生的差分温度传输比模型,介绍了2个面源黑体产生的差分温度传输比模型的复杂性。指出红外热像仪测试系统温差传输比对红外热像仪信号传递函数、最小可分辨温差及最小可探测温差等参数测量的影响,验证了采用精密测温扫描辐射计测量差分温度传输比实现红外热像仪测试系统校准的科学性。
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-07-28
  • 修回日期:  2006-08-20
  • 刊出日期:  2006-11-09

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