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基于光线追踪的三维轮廓测量技术研究

陈文建 武风波

陈文建, 武风波. 基于光线追踪的三维轮廓测量技术研究[J]. 应用光学, 2008, 29(supp): 72-75.
引用本文: 陈文建, 武风波. 基于光线追踪的三维轮廓测量技术研究[J]. 应用光学, 2008, 29(supp): 72-75.
CHEN Wen-jian, WU Feng-bo. Measurement technology of three-dimensional outline based on ray tracing[J]. Journal of Applied Optics, 2008, 29(supp): 72-75.
Citation: CHEN Wen-jian, WU Feng-bo. Measurement technology of three-dimensional outline based on ray tracing[J]. Journal of Applied Optics, 2008, 29(supp): 72-75.

基于光线追踪的三维轮廓测量技术研究

详细信息
    通讯作者:

    陈文建

  • 中图分类号: TN241

Measurement technology of three-dimensional outline based on ray tracing

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    Corresponding author: CHEN Wen-jian
  • 摘要: 针对传统的三维轮廓测量中系统操作难和标定难的问题,提出一种基于条纹投影测量物体三维轮廓的新方法。文章给出系统的测量原理,详细讨论了CCD摄像机的标定方法和投影仪的标定过程,提出利用相位匹配方法求解空间坐标的概念。该测量方法去除了传统测量结构的平行度和垂直度的约束,系统标定和测量过程简单,工程上容易实现。理论分析和实验结果表明:该测量技术具有鲁棒性。
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出版历程
  • 刊出日期:  2008-05-20

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