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GaAs-玻璃粘接阴极组件热辐射放气成份质谱分析

徐江涛

徐江涛. GaAs-玻璃粘接阴极组件热辐射放气成份质谱分析[J]. 应用光学, 2009, 30(2): 296-299.
引用本文: 徐江涛. GaAs-玻璃粘接阴极组件热辐射放气成份质谱分析[J]. 应用光学, 2009, 30(2): 296-299.
XU Jiang-tao. Mass spectrometric analysis for gas components baked from glass cementation cathode module[J]. Journal of Applied Optics, 2009, 30(2): 296-299.
Citation: XU Jiang-tao. Mass spectrometric analysis for gas components baked from glass cementation cathode module[J]. Journal of Applied Optics, 2009, 30(2): 296-299.

GaAs-玻璃粘接阴极组件热辐射放气成份质谱分析

详细信息
    通讯作者:

    徐江涛

  • 中图分类号: TN14

Mass spectrometric analysis for gas components baked from glass cementation cathode module

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    Corresponding author: XU Jiang-tao
  • 摘要: 为解决负电子亲合势GaAs光电阴极电子发射灵敏度低的问题,运用质谱计对GaAs-玻璃粘接阴极组件在高温热辐射除气时的放气成份进行了分析, 获得了GaAs电子发射层原子级表面。结果表明:组件150℃为表面放气,450℃为材料体内放气,580℃为洁净表面获得温度,大于650℃ 时GaAs发射层面有As蒸发。这说明严格控制发射层表面洁净温度,是保证制备高性能阴极灵敏度的关键。
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出版历程
  • 刊出日期:  2009-03-10

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