Calibration method of topography error of white light interferometry on curved surface sample measurement
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摘要:
白光显微干涉术在平面阶跃型结构的形貌测量中具有显著优势。但在测量斜率变化的曲面样品时，由于物镜数值孔径的限制，样品表面反射光随着斜率的增大而减弱，干涉信号对比度降低，导致形貌测量结果的误差增大。基于表面传递函数（surface transfer function, STF）计算得到的逆滤波器可用于校正曲面样品的形貌测量误差，但现有方法的逆滤波器增益受限，无法有效提升频谱中的高频信号，对最大可测量斜率的提升有限。针对该问题，提取由白光干涉仪特性参数计算获得的虚拟STF的模作为振幅增益函数，由干涉图傅里叶变换得到的实测STF的相位作为相位补偿函数，形成虚实融合型逆滤波器，据此实现白光干涉仪曲面形貌测量误差的校正。应用该方法校正微球的形貌测量结果，校正后最大可测量斜率从8.09°提升到21.20°，均方根误差从0.545 5 μm降低至0.175 9 μm，实现了提升曲面样品的最大可测量斜率和减小测量误差的目的，有效提升了仪器针对曲面样品的测量范围。
Abstract:White light microinterferometry has obvious advantages in measuring the topography of planar step structures. However, due to the limitation of the numerical aperture of the objective lens, the reflected light on the surface of the sample is weakened with the increase of the slope when measuring the curved surface sample, and the contrast of the interference signal decreases, which leads to the increase of the error of topography measurement. Based on the theory of surface transfer function (STF), the inverse filter can be calculated to correct the topography measurement error of curved surface samples. However, the gain of the inverse filter of the existing method is limited, which is unable to elevate the high-frequency signal in the spectrum, and the improvement of the maximum measurable slope is limited. To address this issue, the modulus of the virtual STF calculated by the characteristic parameters of the white light interferometer was used as the amplitude gain function, and the phase of the measured STF obtained by the Fourier transform of the measured interferogram was used as the phase compensation function. A virtual-measured fusion inverse filter was formed, which realized the correction of the curved surface topography measurement error of white light interferometer. Using this method to correct the topography measurement results of the microsphere, the maximum measurable slope after correction is increased from 8.09° to 21.20°, and the root mean square error is reduced from 0.545 5 μm to 0.175 9 μm, which achieves the purpose of improving the maximum measurable slope of curved surface sample and reducing the measurement error, and effectively improves the measurement range of the instrument for the curved surface sample.
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引言
目前对于高精度光学平面的加工与检测是科研领域的研究热点之一，高精度光学平面的加工必须有更高精度的检测技术作为支撑。光学干涉测量方法是检验高精度光学平面的有效手段，在干涉平面测量中，通常使用一个高精度平面(λ/20)作为参考镜，而检验一块高精度的平面需要更高精度的平面作为参考基准[1]。因此，测试精度受参考平面精度的制约，这就提出了平面绝对检测要求。平面绝对检测是通过消除干涉仪器的系统误差和参考平面误差对测量结果的影响，从而得到被测平面面形绝对值的测量。
三平面绝对检测以及它的扩展是目前平面绝对检测的主要手段之一。G. Schulz和J. Schwider[2]等人于1967年和1971年提出并发展了传统的三平面绝对检测，可得到平面上沿径向轴线上的绝对面形分布。1954年P. B. Keenan[3]提出了一种伪剪切干涉计量测试技术，通过两平面在某一固定位置的测量结果和被检平面在2个相互垂直方向移动后的测量结果相减后再累加求出被检平面的绝对面形分布。1984年B. S. Fritzz[4]提出了泽尼克多项式拟合法，利用泽尼克多项式特性将平面的表面面形分解为某些正交基函数，然后采用最小二乘法将这些基函数拟合成被检平面的绝对面形。1992年Chiayu Ai和J. C. Wyant[5-6]提出了奇偶函数法，这种方法将平面面形分解为偶奇、奇偶、偶偶、奇奇函数项，再根据6次测量的结果分别求出这4项的值。2001年K. R. Freischlad[7]提出了旋转剪切的方法，这种方法也是在传统三平面绝对检测的基础上提出的。
由于上述方法在实际应用中各有不同的缺点，因此它们还只是一种实验室方法[8]。基于奇偶函数的六步绝对检测算法[5-6]和仿真测量[9]，在仿真测量中，旋转次数越多，其理论精度越高。然而，在实际的高精度测量中，旋转次数越多，引入的旋转角度误差和旋转偏心误差就越大。如$ \text{PV}\ll {1}/{20\lambda }\;$，多次旋转对绝对测量精度和重复性影响非常大。本文依据四步绝对检测算法[10]，利用商用菲索型干涉仪搭建实验系统进行测量[11-12]。
1 测量原理
文中讨论的平面绝对检测基于菲索干涉系统，方法为奇偶函数四步旋转测量方法。在奇偶函数法中，函数F(x, y)可以用偶偶函数项Fee、奇偶函数项Foe、偶奇函数项Feo、奇奇函数项Foo：
$$ {F_{\left( {x, y} \right)}} = Fee + Foe + Feo + Foo $$ (1) 函数的奇偶项、偶奇项和偶偶项很容易精确得到，而奇奇项可以用傅立叶正弦级数第一项Foo, 2oddθ来进行近似，通过旋转90°的运算可以算出奇奇项分量中的第一项，其基本原理如图 1所示。
图 1所示的A(x, y)、B(x, y)、C(x, y)为测量过程中使用的3个平面，首先在每个平面上建立直角坐标系xoy，将这3个平面两两进行干涉，得到4组干涉测量的数据，测量步骤如图 2所示，其中平面B与平面C沿X轴翻转得到BX与CX，平面A逆时针旋转90°得到A90。
四步旋转测量方法的函数表达式为
$$ \begin{array}{l} {M_1} = A + {B^X},{M_2} = {A^{90}} + {B^X},{M_3} = A + {C^X},\\ {M_4} = B + {C^X} \end{array} $$ (2) 通过旋转90°的方式联立方程可解出平面A、B、C的奇偶项、偶奇项、偶偶项和奇奇项，因此通过4次组合测量就能够确定3个平面的绝对面形误差分布，即：
$$ \begin{array}{l} A = {A_{ee}} + {A_{oe}} + {A_{eo}} + {A_{{\rm{oo, 2odd \mathit{ θ} }}}}\\ B = {B_{ee}} + {B_{oe}} + {B_{eo}} + {B_{{\rm{oo, 2odd \mathit{ θ} }}}}\\ C = {C_{ee}} + {C_{oe}} + {C_{eo}} + {C_{{\rm{oo, 2odd \mathit{ θ} }}}} \end{array} $$ (3) 根据以上理论推导得出的奇偶函数平面绝对测量结果，须使第二步的90°旋转尽量精确，同时干涉系统的检测光学系统与参考镜及被测平面共光轴。
2 仿真实验与分析
在三面互检法的实验中，3个被测平面需要相互交换位置测量，且有一个被测平面需要旋转一定的角度，这就要求在互换、旋转和翻转后被测平面的空间坐标轴对准。实验中实际旋转角度与理论角度的差异、平面旋转中心与系统光学中心的差异都会影响测量结果的正确性。鉴于此，本文对绝对检测技术能够达到的理论精度和影响检测精度的因素进行了模拟分析，以实现平面面形绝对检测技术应用于实际时的优化配置。
2.1 仿真实验
首先，采用泽尼克多项式前36项构建原始平面A、B、C，把平面A、B、C按图 2所示步骤输入到计算机中进行模拟4次测量。分别得到4次测量结果M1、M2、M3、M4，并在将4次测量结果输入到计算机中得到平面A′、B′、C′，模拟的3个平面与计算出的3个平面的偏差，如图 3所示。其算法偏差的PV值在10-5 nm量级，RMS值在10-6 nm量级，达到高精度测量的理论要求。
2.2 旋转角度误差的影响
在实际测量中，实际旋转角度会与理论旋转角度有一定的差异，即旋转角度误差。在如图 2所示的第二步中，需要将平面A逆时针旋转90°，因此旋转角度误差的不同可能会导致不同的测量结果。使用泽尼克多项式前36项构建3个平面A、B、C，在仿真过程中，软件干涉图直径为400 pixel，平面A的实际旋转角度为理论旋转角度(90°)叠加一个旋转角度误差(1′)，并对得到的测量结果两两相减，进行点对点作差处理，模拟结果如图 4所示。
由图 4可以看出，测量误差随着旋转角度误差的增大而增大，当旋转角度误差达到8′(0.13°)时，测量误差PV值为0.000 1 λ，与文献[9]中使用六步旋转测量法仿真实验，旋转角度误差为0.1°时对测量结果的影响相吻合。
2.3 旋转偏心误差的影响
在实际测量中，平面旋转中心与光学系统中心存在横向偏移，即旋转偏心误差。图 5为在X方向等量偏心(1/2 pixel)的情况下对绝对检测方法的测量误差进行模拟分析的结果。
由图 5可以看出，测量误差随着旋转偏心误差的增大而增大，当发生3 pixel的旋转偏心误差时，测量误差PV值为0.005 λ，此时，旋转偏心误差为系统的重要误差源。因此进行绝对检验时，必须进行精确的旋转中心定位。
3 实验研究
3.1 实验仪器与参数设计
在实际测量中，采用苏州慧利仪器生产的HOOL L9600干涉仪进行测量，如图 6所示。HOOL干涉仪是以移相干涉技术为原理的干涉仪，采用的是菲索干涉仪光路，它是一款高精度干涉测量仪器，其系统误差优于λ/500(λ=632.8 nm)。
为了减小环境的扰动，所有实验装置置于防震气浮光学平台上，并且由屏蔽罩笼罩，实验室中应尽可能减小人为等因素产生的扰动。
我们选取150 mm口径的标准平面镜B、C，以及150 mm口径的被测平面A进行测量。并将3个平面的x、y方向预先标定好，以便测量时确定平面的安放位置。
3.2 实验步骤
在本实验中，我们选被测平面A、标准平面镜B和C在HOOL干涉仪上进行测量。由于被测平面要旋转，将被测平面A放置在旋转台上，可以确保A逆时针旋转90°时的旋转角度误差小于2′, 即测量误差PV值小于0.000 05 λ。
对于旋转偏心误差，我们将一个可以随被测平面旋转的十字线装置安装在旋转台上，将被测平面在0°位置时十字线中心与被测平面在90°位置时十字线中心调整至与系统光轴重合，并将旋转中心的坐标输入到计算机中，可将旋转偏心误差控制在2 pixel(0.375 mm/pixel)以内，即测量误差PV值小于0.002 5 λ。
将3个平面与仪器放置在同一环境下进行等温处理后，按测量原理，实验步骤如下：
1) 在参考平面位置装上标准平面镜B，被测平面位置装上被测平面A；
2) 校准被测平面A的旋转中心；
3) 调整完毕后，测量并记录干涉结果M1；
4) 将被测平面A逆时针旋转90°，调整完毕后，测量并记录干涉结果M2；
5) 将标准平面镜B取出，换上标准平面镜C，并将被测平面A旋转至步骤1位置。调整完毕后，测量并记录干涉结果M3；
6) 将被测平面A取出，换上标准平面镜B，调整完毕后，测量并记录干涉结果M4；
7) 将4次测量得到的干涉结果M1、M2、M3、M4输入计算机进行计算，得到平面A、B、C的绝对形貌。
3.3 实验结果及分析
PV值通常被用于描述元件或系统的光学质量，描述一个波前的PV值可以理解为该波前的最高点到最低点的间距。PV值容易受到粗大误差的干扰，为了保证PV值测量的重复性，HOOL干涉仪以PV10代替PV，PV10即以波面上最高的10个点的均值减去最低的10个点的均值。PV、PV10分别用如下公式表示：
$$ \begin{array}{l} {\rm{PV}} = {W_{\max }} - {W_{\min }}\\ {\rm{P}}{{\rm{V}}_{10}} = \frac{{\sum\nolimits_k^{10} { = 1\omega \max , k} }}{{10}} - \frac{{\sum\nolimits_k^{10} { = 1\omega \min , k} }}{{10}} \end{array} $$ (4) 因此，在本文中，使用PV10和RMS这2个数字波面指标来评价实验数据的可重复性和实验检测精度。
按上述步骤进行测量，可得到各位置的测量结果M1、M2、M3、M4的面形分布, 并由此计算出被测平面A的绝对面形；各面形分布以及面形的PV10值、RMS值如图 7所示。
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图 7 各位置检测结果及被测平面A的绝对面形Figure 7. Result of four measurements and surface profile of flat A从图 7的这组结果可以看出，被测平面A的PV10值为0.041 5 λ，小于M1的0.054 λ和M2的0.044 2 λ；被测平面A的RMS值为0.008 7λ，小于M1的0.011 4 λ和M2的0.010 2λ。在本实验中对比说明这些数据，通过绝对检测的方法可以减少干涉仪系统误差的影响，提高被检面的检测精度。
由于空气扰动、环境震动的影响，平面面形绝对检测结果会在一定范围内浮动，而使用绝对检测的意义在于被检平面与参考平面精度相当，可剔除参考面面形的影响。所以在高精度检测中，检测结果的重复性是检测结果精度的前提。为了考察绝对检测的重复性，表 1记录了这次检测中10组数据的中间过程和最终结果的PV10值和RMS值，用标准差σ来表证检测的重复性:
$$ \sigma = \sqrt {\left( {1/N} \right){{\sum\nolimits_{{\rm{i}} = 1}^N {\left( {{{\rm{X}}_{\rm{i}}} - \mu } \right)} }^2}} $$ (5) 表 1 10次测量结果及标准差Table 1. Results of 10 measurements and standard deviation名目 M1 M2 M3 M4 A RMS/λ PV10/λ RMS/λ PV10/λ RMS/λ PV10/λ RMS/λ PV10/λ RMS/λ PV10/λ 1 0.011 4 0.054 0 0.010 2 0.044 2 0.012 3 0.054 3 0.012 4 0.049 7 0.008 7 0.041 5 2 0.011 3 0.053 8 0.009 8 0.043 2 0.012 4 0.054 8 0.012 6 0.050 0 0.008 8 0.041 1 3 0.011 4 0.054 0 0.010 0 0.043 7 0.012 7 0.054 5 0.012 6 0.050 5 0.008 6 0.041 2 4 0.011 3 0.053 8 0.010 0 0.044 3 0.012 3 0.053 4 0.012 5 0.050 5 0.008 7 0.042 4 5 0.011 4 0.054 0 0.010 1 0.044 5 0.012 3 0.053 2 0.012 6 0.050 4 0.008 8 0.042 0 6 0.011 4 0.053 6 0.010 1 0.045 0 0.012 3 0.053 2 0.012 6 0.050 8 0.008 8 0.042 1 7 0.011 3 0.054 6 0.010 0 0.044 2 0.012 6 0.054 7 0.012 6 0.051 1 0.008 8 0.041 4 8 0.011 6 0.054 2 0.009 9 0.043 3 0.012 4 0.053 3 0.012 5 0.050 9 0.008 7 0.040 8 9 0.011 5 0.054 5 0.010 0 0.044 7 0.012 4 0.053 8 0.012 5 0.050 0 0.008 8 0.041 8 10 0.011 5 0.054 8 0.010 0 0.044 7 0.012 4 0.053 3 0.012 5 0.050 1 0.008 9 0.041 9 平均值 0.011 4 0.054 1 0.010 0 0.044 1 0.012 4 0.053 8 0.012 5 0.050 4 0.008 7 0.041 6 标准偏差 0.000 1 0.000 3 0.000 1 0.000 6 0.000 1 0.000 6 0.000 1 0.000 4 0.000 1 0.000 5 从表 1中可以看出：1)绝对检测得到的结果A比传统的检测方法得到的结果(M1、M2)精度要高，尤其是RMS值精度；2)实验结果重复性较好，绝对检测得到结果的PV10值重复性在±λ/1 000范围内，RMS值重复性在±λ/7 000范围内。
上述的重复性仅仅是讨论的测量结果数字指标(即PV10、RMS)的重复性，为了讨论各个位置的整体面形分布的重复性，将同一被测平面两次独立的绝对检测结果进行点对点作差处理，用残留误差的大小反映整体面形分布的重复性。如图 8所示，其残差图PV10值为0.004 λ，RMS值为0.000 5 λ，所以对于各个位置，整体面形分布的重复性较好。
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图 8 两次绝对检测分别测量同一平面的结果之差Figure 8. Difference between same flats obtained from two independent absolute tests4 结论
本文根据现代高精度光学平面检测工业测量精度高、测量稳定可靠等要求，尤其是部分光学平面的表面面形精度远远超出现有商用干涉仪的面形检测水平，介绍了一种基于奇偶函数的绝对检测方法，分别就旋转角度误差及旋转偏心误差对测量误差的影响进行了仿真分析，仿真结果显示绝对检测技术对旋转偏心误差敏感。因此，在进行绝对检测时，应进行严格的旋转中心定位。并基于商用干涉仪搭建了实验系统进行验证，测得实际样品的绝对检测精度是PV10值为0.041 5λ，RMS值为0.008 7λ，小于常规干涉检测所得结果。实验结果表明：使用本文方法可以减少干涉仪器的系统误差和参考平面误差的影响，提高被检平面的检测精度。对测量重复性进行研究，实验结果显示其PV10值重复性在±λ/1 000范围内，RMS值重复性在±λ/7 000范围内；并对同一平面两次独立的绝对检测结果进行点对点作差处理，从而获得残差图，其残差图PV10值为0.004λ，RMS值为0.000 5λ，表明测量结果的重复性高，实现了高精度平面面形检测，对光学平面加工与检测具有一定的指导意义。
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图 2 白光干涉仪测量倾斜表面的NA圆锥极限
Figure 2. NA cone limit of white light interferometer when measuring tilted surface
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图 3 虚实融合型逆滤波校正算法流程图
Figure 3. Flow chart of virtual-measured inverse filtering correction method
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图 6 经过带通滤波前后的干涉条纹和条纹中心的干涉信号
Figure 6. Interference fringes and signals at fringe center before and after bandpass filtering
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图 7 微球的表层膜模型（$x {\text{-}} {\textit{z}} $截面）
Figure 7. Foil model of microsphere ($x {\text{-}} {\textit{z}} $ cross section)
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图 8 表层膜模型的频谱（${k_x} {\text{-}} {k_{\textit{z}}}$截面）
Figure 8. Spectrum of foil model (${k_x} {\text{-}} {k_{\textit{z}}}$ cross section)
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图 9 白光干涉仪实测STF（${k_x} {\text{-}} {k_{\textit{z}}}$截面）
Figure 9. Measured STF of WLI (${k_x} {\text{-}} {k_{\textit{z}}}$ cross section)
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图 10 两种逆滤波校正后的干涉条纹及对应的干涉信号
Figure 10. Interference fringes after different inverse filtering correction and corresponding signals at center of fringe
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图 11 普通逆滤波校正后不同表面斜率对应的干涉信号
Figure 11. Interference signals corresponding to different surface slopes corrected by ordinary inverse filtering
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图 12 虚实融合型逆滤波校正后不同表面斜率对应的干涉信号
Figure 12. Interference signals corresponding to different surface slopes corrected by virtual-measured fusion inverse filtering
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图 13 经过两种逆滤波校正的形貌测量结果和误差
Figure 13. Topography measurement results and errors corrected by different inverse filtering
表 1 两种逆滤波校正方法结果的对比
Table 1 Comparison of results of two inverse filtering correction methods
Calibration
methodRMSE/μm Lateral measuring
range/μmMaximum
measurable
slope/(°)Uncalibrated 0.545 5 70.49 8.09 Ordinary inverse
filtered0.336 3 145.87 16.93 Virtual-measured
inverse filtered0.175 9 181.14 21.20 
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[1] 高志山, 袁群, 孙一峰, 等. 微结构显微光学无损检测方法(特邀)[J]. 光子学报,2022,51(8):23-40. doi: 10.3788/gzxb20225108.0851501 GAO Zhishan, YUAN Qun, SUN Yifeng, et al. Non-destructive test methods of microstructures by optical microscopy(invited)[J]. Acta Photonica Sinica,2022,51(8):23-40. doi: 10.3788/gzxb20225108.0851501
[2] 陈善勇, 薛帅, 熊玉朋, 等. 面向制造的光学面形超精密测量技术研究进展[J]. 激光与光电子学进展,2023,60(3):177-190. CHEN Shanyong, XUE Shuai, XIONG Yupeng, et al. Research progress of ultra-precision measurement of optical surfaces for manufacturing[J]. Laser & Optoelectronics Progress,2023,60(3):177-190.
[3] 尹智瑶, 郭仁慧, 杨鑫, 等. 基于白光干涉的ICF靶丸表面缺陷测量方法[J]. 光学学报,2022,42(10):79-87. doi: 10.3788/AOS202242.1012004 YIN Zhiyao, GUO Renhui, YANG Xin, et al. Measurement method for surface defects on ICF capsules based on white light interferometry[J]. Acta Optica Sinica,2022,42(10):79-87. doi: 10.3788/AOS202242.1012004
[4] 张超, 袁群, 张佳乐, 等. 白光显微干涉三维形貌测量中的移相误差校正方法[J]. 红外与激光工程, 2022, 51(7): 341-348. ZHANG Chao, YUAN Qun, ZHANG Jiale, et al. Calibration method of the phase-shifting error for the topography measurement utilizing white light interferometric microscopy[J]. Infrared and Laser Engineering, 2022, 51(7): 341-348.
[5] KÜNNE M, HAGEMEIER S, KÄKEL E, et al. Investigation of measurement data of low-coherence interferometry at tilted surfaces in the 3D spatial frequency domain[J]. Tm-Technisches Messen,2021,88(S1):65-70. doi: 10.1515/teme-2021-0051
[6] GAO F, LEACH R K, PETZING J, et al. Surface measurement errors using commercial scanning white light interferometers[J]. Measurement Science and Technology,2008,19(1):015303. doi: 10.1088/0957-0233/19/1/015303
[7] SU R, WANG Y H, COUPLAND J, et al. On tilt and curvature dependent errors and the calibration of coherence scanning interferometry[J]. Optics Express,2017,25(4):3297-3310. doi: 10.1364/OE.25.003297
[8] XIE W C, LEHMANN P, NIEHUES J. Lateral resolution and transfer characteristics of vertical scanning white-light interferometers[J]. Applied Optics,2012,51(11):1795-1803. doi: 10.1364/AO.51.001795
[9] COUPLAND J M, LOBERA J. Holography, tomography and 3D microscopy as linear filtering operations[J]. Measurement Science and Technology,2008,19(7):074012. doi: 10.1088/0957-0233/19/7/074012
[10] MANDAL R, COUPLAND J, LEACH R, et al. Coherence scanning interferometry: measurement and correction of three-dimensional transfer and point-spread characteristics[J]. Applied Optics,2014,53(8):1554-1563. doi: 10.1364/AO.53.001554
[11] SU R, THOMAS M, LIU M Y, et al. Lens aberration compensation in interference microscopy[J]. Optics and Lasers in Engineering,2020,128:106015. doi: 10.1016/j.optlaseng.2020.106015
[12] SU R, THOMAS M, LIU M Y, et al. High-accuracy surface measurement through modelling of the surface transfer function in interference microscopy[C]//Proceedings of Applied Optical Metrology III. San Diego: SPIE, 2019, 11102: 19-25.
[13] COUPLAND J, MANDAL R, PALODHI K, et al. Coherence scanning interferometry: linear theory of surface measurement[J]. Applied Optics,2013,52(16):3662-3670. doi: 10.1364/AO.52.003662
[14] 苏榕, 刘嘉宇, 乔潇悦, 等. 用于表面形貌测量的扫描白光干涉技术进展[J]. 激光与光电子学进展,2023,60(3):60-80. SU Rong, LIU Jiayu, QIAO Xiaoyue, et al. Advances in scanning white light interferometry for surface topography measurement[J]. Laser & Optoelectronics Progress,2023,60(3):60-80.
[15] SU R, LEACH R. Physics-based virtual coherence scanning interferometer for surface measurement[J]. Light: Advanced Manufacturing,2021,2(2):120-135. doi: 10.37188/lam.2021.009
-
期刊类型引用(7)
1. 贾旭，韩森，吴泉英. 双光路干涉测量的控制系统设计. 应用光学. 2023(04): 842-851 . 
本站查看
2. 张梦然，周广，类维政，董晓浩. 基于单次旋转法的X射线平面镜绝对检测. 激光杂志. 2022(08): 43-48 . 百度学术
3. 李若琨，陈磊，马致遥，张喆，胡晨辉，郑东晖，胡志豪. 基于奇偶函数分解算法的绝对检验对比研究. 光学技术. 2022(06): 684-689 . 百度学术
4. 张正宇，陈磊，孔璐，王云涛，陈佳，胡晨辉，郑东晖. 基于N次图像旋转法的两平晶三面互检技术研究. 应用光学. 2021(01): 104-112 . 本站查看
5. 张帅，全海洋，侯溪，胡小川，吴高峰. 基于改进六步翻转法的平行平板面形及均匀性绝对检测方法. 光电工程. 2021(07): 26-34 . 百度学术
6. 沈帆帆，田爱玲，王大森，刘丙才，朱学亮，王红军. 旋转平移法平面绝对检测的偏心误差修正. 激光与光电子学进展. 2021(19): 177-184 . 百度学术
7. 张凌华，韩森，吴泉英，唐寿鸿，李雪园，王全召. 平面绝对检测闭环自检实验研究. 计量学报. 2019(02): 208-212 . 百度学术
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